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原位樣品桿知識(shí):一文認(rèn)識(shí)原位透射電鏡技術(shù)

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2024-04-29  來(lái)源:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
核心提示:在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中,觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的。我們通過(guò)幾個(gè)方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念、發(fā)展和應(yīng)

在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中,觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的。我們通過(guò)幾個(gè)方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念、發(fā)展和應(yīng)用等方面來(lái)更好的幫助大家認(rèn)識(shí)原位透射電子顯微技術(shù)。

傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡(transmission electron microscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)TEM)是一種用來(lái)觀察材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具,對(duì)于材料學(xué)科的發(fā)展起到了巨大的推動(dòng)作用。許多新型的納米材料、材料結(jié)構(gòu)和性能之間的關(guān)聯(lián)、材料物理化學(xué)反應(yīng)機(jī)理等研究成果不斷涌現(xiàn)。然而,因?yàn)閭鹘y(tǒng)的透射電子顯微鏡(TEM)觀測(cè)只能對(duì)材料在真空環(huán)境下進(jìn)行靜態(tài)表征,而許多材料的性能和行為在不同環(huán)境或?qū)嶋H工作條件下可能發(fā)生變化,傳統(tǒng) TEM 無(wú)法提供與之相關(guān)的信息。

由此,原位透射電鏡(in-situ transmission electron microscopy,簡(jiǎn)稱(chēng) in-situ TEM)應(yīng)運(yùn)而生,該項(xiàng)技術(shù)允許研究人員在實(shí)時(shí)觀察和操控樣品的條件下進(jìn)行高分辨率成像和表征。并能夠?qū)崿F(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學(xué)反應(yīng)過(guò)程中研究材料的結(jié)構(gòu)和行為,并直接觀察相變、位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)、晶體生長(zhǎng)等動(dòng)態(tài)過(guò)程。通過(guò) in-situ TEM,研究人員可以更深入地了解材料的性能、相互作用和響應(yīng)機(jī)制,一度成為材料研究尤為熱門(mén)的工具。

原位透射電子顯微技術(shù)(in-situ TEM)是一種顯微鏡技術(shù),可以在原子尺度下實(shí)時(shí)觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為。它結(jié)合了透射電子顯微鏡和原位實(shí)驗(yàn)技術(shù),通過(guò)在不同環(huán)境條件下對(duì)材料進(jìn)行觀察,揭示材料在真實(shí)工作環(huán)境下的行為和變化過(guò)程。

與傳統(tǒng)透射電子顯微鏡技術(shù)相比,原位透射電子顯微鏡技術(shù)的主要區(qū)別在于其實(shí)時(shí)觀察能力和對(duì)材料的動(dòng)態(tài)行為的研究。傳統(tǒng)透射電子顯微鏡主要用于對(duì)固定樣品的靜態(tài)觀察,而原位透射電子顯微鏡技術(shù)允許研究人員在材料受到外部刺激或不同環(huán)境條件下進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。

此外,原位透射電子顯微技術(shù)還具有以下特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì):

1. 高分辨率:原位透射電子顯微技術(shù)具有很高的分辨率,可以觀察到材料的細(xì)微結(jié)構(gòu)和原子級(jí)別的細(xì)節(jié)。

2. 實(shí)時(shí)觀察:該技術(shù)能夠提供實(shí)時(shí)的觀察能力,使研究人員可以在材料發(fā)生變化的過(guò)程中進(jìn)行觀察和記錄。

3. 多尺度觀察:原位透射電子顯微技術(shù)可以在不同尺度上觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為,從宏觀到納米級(jí)別。

4. 環(huán)境控制:該技術(shù)允許在不同環(huán)境條件下進(jìn)行觀察,如高溫、低溫、高壓、不同氣氛等,模擬材料在實(shí)際應(yīng)用中的工作環(huán)境。

原位透射電子顯微技術(shù)通過(guò)結(jié)合高能電子束、實(shí)時(shí)觀察和環(huán)境控制,為研究人員提供了一種強(qiáng)大的工具,用于揭示材料的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)和動(dòng)態(tài)行為,以推動(dòng)材料科學(xué)和相關(guān)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用發(fā)展。

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編輯:songjiajie2010

 
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