全反射X熒光（TXRF）分析技術(shù)是近年來才發(fā)展起來的多元素同時(shí)分析技術(shù)。TXRF利用全反射技術(shù)，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EDXRF）本底降低約四個(gè)量級，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測量中通常遇到的本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)；同時(shí)TXRF技術(shù)又繼承了EDXRF方法的優(yōu)越性。它突出的優(yōu)點(diǎn)是檢出限低（pg、ng/mL級以下）、用樣量少（μL、ng級）、準(zhǔn)確度高（可用內(nèi)標(biāo)法）、簡便、快速，而且可進(jìn)行無損分析，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。國際上每兩年召開一次TXRF分析技術(shù)國際討論會(huì)，該技術(shù)被譽(yù)為在分析領(lǐng)域是最具有競爭力的分析手段、在原子譜儀領(lǐng)域內(nèi)處于領(lǐng)先地位。

在X熒光譜儀范圍內(nèi)，與波長色散譜儀（WDXRF）方法比較，由于TXRF分析技術(shù)用樣量很少，也不需要制作樣品的煩瑣過程，又沒有本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)，不需要每次對不同的基體做不同的基體校準(zhǔn)曲線。另外由于使用內(nèi)標(biāo)法，對環(huán)境溫度等要求很低。因而在簡便性、經(jīng)濟(jì)性、用樣量少等方面，都比WDXRF方法有明顯的優(yōu)越性。

在整個(gè)元素分析領(lǐng)域內(nèi)，TXRF技術(shù)可以對從鈉(11Na )到鈾(92U)的所有元素進(jìn)行分析，一次可以對近30種元素進(jìn)行同時(shí)分析，這是原子吸收譜儀中的ETAAS和FAAS方法難以做到的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經(jīng)濟(jì)、多元素同時(shí)分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢。

北京普析通用儀器有限責(zé)任公司作為分析儀器的專業(yè)制造商，推出的TXRF8雙光路全反射X熒光分析儀，其性能優(yōu)良，質(zhì)量可靠，是分析人員的好幫手。該產(chǎn)品通過了國家制造計(jì)量器具CMC認(rèn)證，還通過了省部級專家鑒定，認(rèn)定“其主要技術(shù)指標(biāo)處于國內(nèi)領(lǐng)先，達(dá)到了國際先進(jìn)水平”，其后又經(jīng)過多年的應(yīng)用研究和改進(jìn)提高，目前TXRF8雙光路全反射X熒光分析儀已推廣使用，在快速定性定量分析、貴金屬分析、濕法冶金元素分析中都有著獨(dú)特的優(yōu)勢。

  ◇  應(yīng)用領(lǐng)域：
    TXRF在元素分析領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用現(xiàn)狀和發(fā)展前景都是令人鼓舞的。它可以廣泛用于地礦、冶金、化工、食品、生物、醫(yī)藥、環(huán)保、法檢、考古、高純材料等等各領(lǐng)域內(nèi)的常量、微量、痕量元素分析測定，特別在半導(dǎo)體工業(yè)中的硅表面質(zhì)量控制方面，有著不可替代的優(yōu)勢，目前已在國際上得到廣泛應(yīng)用。
 地礦：金礦、銅精料和鎳精料、螢石、長石、氧化銻
冶金：鎳電解液、銅陽極泥、高冰鎳中的貴金屬、光譜純Rh、金銀首飾、鑄鐵、軸承
化工：柴油中的硫含量、各種催化劑、陶瓷釉料
環(huán)境保護(hù)：自來水、大氣飄塵、污水污泥
生物：海洋動(dòng)物牙齒和體液
醫(yī)藥：頭發(fā)和指甲中的有益有害元素、丹參中的有害微量元素
食品：飲料中的元素
刑偵法醫(yī)：現(xiàn)場樣品鑒定
考古：青銅器等
材料：高純石英雜質(zhì)含量，KTP晶體注入Er的認(rèn)定