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一類是定量測試：如盲孔法、X射線法、磁測法、噴砂打孔法、切割法、套環(huán)法等。
一類是定性測試：如振動參數(shù)曲線法、尺寸精度穩(wěn)定性法等。本文著重一講振動曲線法。
一、常用的幾種殘余應力測試法
1.切割法、套環(huán)法：
這兩種方法的基本原理是一樣的，就是在被測點附近，先貼上應變片，然后再用手鋸或銑床，在這一點附近切割出方格線，使之與鄰近部分分開以釋放殘余應力，并用應變片測出應變量，再計算出該點處的殘余應力值大小。
2.盲孔法：
切割法和套環(huán)法具有較大的破壞性，因此目前應用較為廣泛的殘余應力測試方法是鉆盲孔法。鉆孔法測量殘余應力就是在被測點上鉆一小孔，使被測點的應力得到部分或全部釋放，并由事先貼在小孔周圍的應變計測得釋放的應變量，再根據(jù)彈性力學原理計算出殘余應力。鉆孔的直徑和深度都不大，不會影響被測構件的正常使用。并且這種方法具有較好的精度，因此它已成為應用比較廣泛的殘余應力測試方法之一。
3.X射線法：
X射線法測應力的基本原理是，利用X射線穿透晶粒時產(chǎn)生的衍射現(xiàn)象。在彈性應變作用下，引起晶格間距變化，使衍射條紋產(chǎn)生位移，根據(jù)位移的變化即可計算出應力來。
X射線法測應力的特點如下：
①它是一種無損測試方法。
②它測量的僅僅是彈性應變而不包括塑應變（因為工件塑性變形時其晶面間距并不改變，不會引起衍射線的位移）。
③被測面直徑可以小到1～2mm。因此可以用于研究一點應力和梯度變化較大的應力分布。
④由于穿透能力的限制，一般只能測深度在10um左右的應力，所以只是表面應力。
⑤對于能給出清晰衍射峰的材料，例如退火后細晶粒材料，本方法可達10Mpa的精度，但對于淬火硬化或冷加工材料，其測量誤差將增大許多倍。
4.磁測法：
磁測法測量殘余應力是近年來發(fā)展起來的一種新方法，它具有較大的發(fā)展前途，設備簡單、使用方便，它不僅可以測殘余應力也可以測載荷作用下的應力。在磁場面的作用下，應力產(chǎn)生磁各異性，磁導率作為張量相似，通過傳感器和一定電路，將磁導率的變化轉為電信號，輸出電流（或電壓）反映應力值的變化。該方法測量誤差與工件表面情況有關。
二、 振動參數(shù)曲線法
一項振動時效工藝是否成功，其最后的檢測方法應是殘余應力的變化率和尺寸精度保持性的測試。但是振動處理過程中采用上述兩種參數(shù)是不可能的，它是需要長時間和復雜的測試過程。通常在實際生產(chǎn)應用的控制過程中往往采用振動時效前后幅頻特性參數(shù)曲線和振幅-時間參數(shù)曲線測試法并按JB/T5926-91標準中第4.1條款或JB/T10375-2002標準中的第6.2條款驗收來實現(xiàn)的。
（a） 幅頻特性曲線掃描法
圖6-1幅頻特性曲線二次掃描圖
（圖中實線為振前所測曲線、虛線為振后所測曲線）
在振動處理過程中隨著殘余應力的下降，構件的內(nèi)阻尼減小，所以在幅頻特性曲線上所表現(xiàn)出的是固有頻率的下降，（如圖6-1中所示f1變?yōu)閒1′）、共振峰值的增高、頻帶變窄。振動處理前測得的幅-頻特性曲線和振后幅頻特性曲線對比可求出各參數(shù)的變化量△f,△h和△u。經(jīng)過多個試件處理后可把這些變化量的統(tǒng)計值確定下來。這樣就可在生產(chǎn)應用時進行監(jiān)測。
如果生產(chǎn)中所得的參數(shù)變化與確定的數(shù)值相近，說明振動處理的效果已達到。如果遠遠偏小，說明效果欠佳，尚需在激振參數(shù)（主要是激振力）上做適當調(diào)整，或支承方式上需做調(diào)整。
總之，幅-頻特性曲線監(jiān)測法是國內(nèi)外普遍采用的較為成熟的方法。
（b）振幅-時間曲線監(jiān)測法
幅-頻特性曲線是振動處理的前后進行的，且頻率在不斷的改變。有時為了獲得更好的曲線。這要比前一種方法更為簡單，它既可以通過振幅的變化來控制振動處理的有效時間，又可以通過振幅的變化量來監(jiān)測殘余應力的變化情況。
三、尺寸精度穩(wěn)定性法
尺寸精度穩(wěn)定性是根據(jù)定期對構件尺寸精度的測量來實現(xiàn)的。它包括兩方面內(nèi)容：一方面是觀測構件尺寸精度隨時間而發(fā)生的變化量，與熱時效或精度允差相比較；另一方面是要觀察構件在靜、動荷載作用后的尺寸精度變化量，同樣與傳統(tǒng)工藝（熱時效）相比，以鑒定振動時效工藝的可行性。
如果殘余應力消除和均化的效果好，那么工件中殘余應力的再分布的可能性和程度就比較小，工件的尺寸精度穩(wěn)定性就好。實踐證明在保持工件尺寸精度穩(wěn)定性方面振動時效技術比其它傳統(tǒng)的時效方法更顯優(yōu)勢。
