用特定方法可靠地將分析物測(cè)定信號(hào)從特定基體背景中識(shí)別或區(qū)分出來(lái)時(shí)分析物的最低濃度或量，也就是說(shuō)，MDL就是用該方法測(cè)定出大于相關(guān)不確定度的最低值。在確定MDL時(shí)，應(yīng)考慮到所有基體干擾。目前，大多數(shù)分析均利用儀器，每種儀器對(duì)于所檢測(cè)分析物的量均有一定的檢出能力。該種檢出能力用儀器檢出限（IDL）進(jìn)行表示。隨著靈敏度增加，IDL降低，儀器噪音降低，IDL也降低。確定檢出限方法很多，除下面所列方法外，其他方法也可被接受。

目視評(píng)價(jià)可應(yīng)用于非儀器方法和儀器分析方法。同時(shí)，也可應(yīng)用于定性測(cè)試方法LOD評(píng)估。LOD通過(guò)在樣品空白中添加已知濃度分析物，然后評(píng)定能夠可靠檢測(cè)出分析物的最低濃度值。在樣品空白中加入一系列不同濃度的分析物。在每個(gè)濃度點(diǎn)通常需要進(jìn)行約7次獨(dú)立測(cè)試。各濃度點(diǎn)的重復(fù)性測(cè)試應(yīng)按隨機(jī)順序進(jìn)行。對(duì)于定性分析，通過(guò)繪制陽(yáng)性（或陰性）結(jié)果百分比與濃度相對(duì)應(yīng)的反應(yīng)曲線(xiàn)，用來(lái)檢查確定閾值濃度，也就是在該濃度時(shí)檢測(cè)是不是可靠。

空白標(biāo)準(zhǔn)偏差法評(píng)估LOD

可通過(guò)分析大量的樣品空白或加入最低可接受濃度的樣品空白來(lái)確定LOD。獨(dú)立測(cè)試的次數(shù)應(yīng)不少于10次（n≥10）。計(jì)算出檢測(cè)結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差（s），LOD的計(jì)算方法詳見(jiàn)表。

“最低可接受濃度”為在所得不確定度可接受的情況下所加入的最低濃度；假設(shè)實(shí)際檢測(cè)中樣品和空白分別測(cè)定，且通過(guò)樣品濃度扣減空白信號(hào)對(duì)應(yīng)的濃度進(jìn)行空白校正；樣品空白值的平均值和標(biāo)  準(zhǔn)偏差都是受樣品基質(zhì)影響的，因此最低檢出限也受樣品基質(zhì)種類(lèi)的影響；因此，如果利用此條件進(jìn)行符合性判定時(shí)，需要定期用實(shí)際檢測(cè)數(shù)據(jù)更新精密度值。

校準(zhǔn)方程的適用范圍評(píng)估LOD

如果在LOD或接近LOD的樣品數(shù)據(jù)無(wú)法獲得，可利用校準(zhǔn)方程的參數(shù)評(píng)估儀器的LOD。如果用空白平均值加上空白的3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差，儀器對(duì)于空白的響應(yīng)即為校準(zhǔn)的截距a，儀器響應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差即為校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差（sy/x）。故可利用方程yLOD=a+3sy/x=a+bxLOD，則xLOD= 3sy/x/b。這個(gè)方程可廣泛應(yīng)用于分析化學(xué)。然而由于這是外推法，所以當(dāng)濃度接近于預(yù)期的LOD時(shí)，結(jié)果就不如由實(shí)驗(yàn)得到的結(jié)果可靠，因此建議分析濃度接近于LOD的樣品，應(yīng)確證在適當(dāng)?shù)母怕氏卤环治鑫飪?nèi)能夠被檢測(cè)出來(lái)。

信噪比法評(píng)估LOD

由于儀器分析過(guò)程都會(huì)有背景噪音，常用的方法就是利用已知低濃度的分析物樣品與空白樣品的測(cè)量信號(hào)進(jìn)行比較，確定能夠可靠檢出的最小的濃度。典型可接受的信噪比為2:1或3:1。

對(duì)于定性方法來(lái)說(shuō)，低于臨界濃度時(shí)選擇性是不可靠的。該臨界值會(huì)隨著試驗(yàn)條件中的試劑、加標(biāo)量、基質(zhì)等不同而變化。確定定性方法的LOD時(shí)，可以通過(guò)往空白樣品中添加幾個(gè)不同濃度水平的標(biāo)液，在每個(gè)水平分別隨機(jī)檢測(cè)10次，記錄檢出結(jié)果（陽(yáng)性或陰性）。繪制樣品檢出的陽(yáng)性率（%）或陰性率（%）對(duì)添加濃度的曲線(xiàn)，臨界濃度即為檢測(cè)結(jié)果不可靠時(shí)的拐點(diǎn)。

（1）儀器檢測(cè)下限
可檢測(cè)儀器的最小訊號(hào)，通常用信噪比來(lái)表示，當(dāng)信號(hào)與噪聲之比大于等于3時(shí)，相當(dāng)于信號(hào)強(qiáng)度的試樣濃度，定義為儀器檢測(cè)下限。

（2）方法檢測(cè)下限
即，某方法可檢測(cè)的最低濃度。通常用低濃度曲線(xiàn)外推法可求的方法檢測(cè)下限。
美國(guó)EPASW-846中規(guī)定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復(fù)測(cè)定7次)

（3）樣品檢測(cè)下限
即，相對(duì)于空白可檢測(cè)的樣品最小含量。樣品檢測(cè)下限定義為：其信號(hào)等于測(cè)量空白溶液的信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍時(shí)的濃度。檢測(cè)下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測(cè)下限不僅與方法檢測(cè)下限有關(guān)，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動(dòng)情況有關(guān)。只有當(dāng)空白含量為零時(shí)，樣品檢測(cè)下限等于方法檢測(cè)下限。然而，空白含量往往不等于零，空白大小受環(huán)境對(duì)樣品的污染，試劑純度、水質(zhì)純度、容器的質(zhì)地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測(cè)下限可能很低，但由于空白含量的存在，以及空白含量的波動(dòng)，樣品檢測(cè)下限可能要比方法檢測(cè)下限大得多。從實(shí)用中考慮，樣品檢測(cè)下限較為有用和切合實(shí)際。

（4）定量下限
美國(guó)EPASW-846中規(guī)定4MDL為定量下限RQL，即4倍檢出限濃度作為測(cè)定下限，其測(cè)定值的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。